晶状体裂隙灯检查最常用的方法有哪些?

​裂隙灯检查法是应用裂隙灯角膜显微镜已投射光线的不同角度和宽窄,焦点或离散方法经角膜显微镜观察晶状体的光学特性,从而对晶状体的位置,病变情况做出判断,一般检查越是近轴位部位,投射角度越小,如十五到三十度,周边部这可达到四十五到六十度。

离散照明法,将裂隙灯的光源开大,呈离散光斑,投向角膜晶状体,通过透明的角膜,可以看到晶状体的全貌,检查晶状体有无移位,有无明确的斑点状或楔形混浊,晶状体表面是否光洁一致的,但是不能明确晶状体各层较细微的改变。

间接焦点斜照法,将焦点照射光线放在需要观察部位的侧方,利用其间接光反射可以看到,并非板浑浊,但着光有改变的病变,有水系,空泡及轻微的浑浊。

后应光照射法,将照射光线通过被观察部位的后方,通过其后的反射光线来观察较细微的直接焦点照射法不易发生的改变,如晶状体后囊下的浑浊,后发胀,前囊,磨色素,微小浑浊等。

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